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EXFO 光波长计

产品型号:WA-1100

厂商性质:经销商

产品价格:

更新时间:2020-08-02

简要描述:

EXFO 光波长计
Burleigh WA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术,通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较,确定被测光信号的波长。

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EXFO 光波长计
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EXFO光波长计

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EXFO 光波长计

产品简介:

Burleigh WA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术,通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较,确定被测光信号的波长。

WA-1100波长光学波长计可提供精度的波长测量和同时的功率测量,并且专为表征制造环境中的WDM组件而设计。

这些系统采用了Burleigh业已证明的基于迈克尔逊干涉仪的扫描型Wavemeter技术,通过将其干涉条纹图案与内置HeNe激光波长标准的干涉条纹图案进行比较,来确定测试激光的波长。与其他波长计不同,要考虑所有可能影响波长测量的因素,以使WA-1100达到±1 ppm的高波长精度。

为了提供对WDM组件的更完整分析,这些波长表可同时测量光输入信号的总功率。此外,漂移功能可自动监测波长或功率的任何变化,并随时间变化。显示电流值及其与测量起点的偏差,以提供测试激光器的实时状态。还报告了大值和小值以给出在测量过程中达到的极限。

主要特征:

范围:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。

准确度:±1.5 pm。

显示分辨率:0.001 nm。

准确度:±0.5 dB(1310和1550 nm处±30 nm处)。

功率分辨率:0.01 dB。功率线性:±0.3 dB。

功率显示分辨率:0.01 dB。

光学输入信号灵敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。大输入电平(所有线路的总和):+ 10 dBm (10 mW)。

测量周期:0.1秒(10次/秒)。

仪器接口:GPIB (IEEE-488.2), RS-232, LabVIEW, LabWindows

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