WA-1100光波长计

BurleighWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术，通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较，确定被测光信号的绝对波长。

型号：WA-1100    价格：面议    厂商性质：经销商

安捷伦 86120B 多波长计

安捷伦86120B多波长计是德多波长计系列86120B、86120C和86122A是理想的优化工具，可有效针对下一代应用开发、制造、安装并验证光元件和网络。

型号：    价格：0    厂商性质：经销商

EXFO WA-1650 光波长计

EXFOWA-1650光波长计 WA-1650/1150和WA-1100WAVEMETER光学波长仪来自Burleigh，是EXFO公司的产品。WA-1650/1150/1100专为连续波和调制激光源的光学波长测量而设计。这些WAVEMETER系统用于表征有源DWDM组件并校准无源DWDM组件，测试设备和测试站。EXFO的WA-1150，WA-1650和WA-1100具有基于

型号：    价格：0    厂商性质：经销商

ANDO AQ6140 光波长计

ANDOAQ6140光波长计 AQ6140多波长计具有极高的波长测量精度和可分辨的频率间隔，很好地满足了市场需求及测量需要。它可以应用于多种测量场合，包括DWDM系统开发以及光器件的生产。

型号：    价格：0    厂商性质：经销商

WA-1100EXFO 光波长计

EXFO光波长计 BurleighWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术，通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较，确定被测光信号的绝对波长。

型号：WA-1100    价格：0    厂商性质：经销商

EXFO WA-1150 光波长计

EXFOWA-1150光波长计 WA-1150波长计光波长计提供高精度的波长测量，同步功率测量，专为在制造环境中表征WDM组件而设计。

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安捷伦 86120A 光波长计

安捷伦86120A光波长计 Agilent86120A光学波长计是一种基于迈克尔逊干涉仪的仪器，可测量700至1650nm的激光波长和光能。同时测量多个激光器，测量WDM（多个混合波分）信号和法布里-珀罗激光线。

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EXFO WA-1100 光波长计

EXFOWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术，通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较，确定被测光信号的绝对波长。

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