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  • WA-1100光波长计

    BurleighWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术,通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较,确定被测光信号的波长。

    型号:WA-1100    价格:面议    厂商性质:经销商

  • 安捷伦 86120B 多波长计

    安捷伦86120B多波长计是德多波长计系列86120B、86120C和86122A是理想的优化工具,可有效针对下一代应用开发、制造、安装并验证光元件和网络。

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

  • EXFO WA-1650 光波长计

    EXFOWA-1650光波长计 WA-1650/1150和WA-1100WAVEMETER光学波长仪来自Burleigh,是EXFO公司的产品。WA-1650/1150/1100专为连续波和调制激光源的光学波长测量而设计。这些WAVEMETER系统用于表征有源DWDM组件并校准无源DWDM组件,测试设备和测试站。EXFO的WA-1150,WA-1650和WA-1100具有基于

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

  • ANDO AQ6140 光波长计

    ANDOAQ6140光波长计 AQ6140多波长计具有极高的波长测量精度和可分辨的频率间隔,很好地满足了市场需求及测量需要。它可以应用于多种测量场合,包括DWDM系统开发以及光器件的生产。

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

  • WA-1100EXFO 光波长计

    EXFO光波长计 BurleighWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术,通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较,确定被测光信号的波长。

    型号:WA-1100    价格:面议    厂商性质:经销商

  • EXFO WA-1150 光波长计

    EXFOWA-1150光波长计 WA-1150波长计光波长计提供高精度的波长测量,同步功率测量,专为在制造环境中表征WDM组件而设计。

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

  • 安捷伦 86120A 光波长计

    安捷伦86120A光波长计 Agilent86120A光学波长计是一种基于迈克尔逊干涉仪的仪器,可测量700至1650nm的激光波长和光能。同时测量多个激光器,测量WDM(多个混合波分)信号和法布里-珀罗激光线。

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

  • EXFO WA-1100 光波长计

    EXFOWA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W**波长计技术,通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较,确定被测光信号的波长。

    型号:    价格:面议    厂商性质:经销商

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